1 In-Situ Carbon Deposition in FIB for Reducing TEM Lamella Curtains Caused by Air Gaps in NAND Flash

发布于 2024-09-11 11:45:27 DOI：https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2017p0256

_In-Situ_ Carbon Deposition in FIB for Reducing TEM Lamella Curtains Caused by Air Gaps in NAND Flash Memory

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ajitai 2024-09-11

这家伙很懒，什么也没写！

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